'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство, за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Прикладна кристалографія». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство, за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Прикладна кристалографія. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня вищої освіти зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» '
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» '
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури нагрівання на структуру і властивості сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
' «Методи структурного аналізу матеріалів.(Електронна мікроскопія)». Визначення сталої електронного мікроскопу Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«Рентгенографія матеріалів» (Частина 1). Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів. (Електронна мікроскопія)». Калібрування збільшення електронного мікроскопу Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №1-№8. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури гартування на структуру і властивості сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури відпуску на структуру і властивості
загартованої сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”
'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Модуль 1.Кристалографія. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 Фізика та астрономія
'
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив охолоджуючого середовища на структуру і властивості сталі ” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Прикладна кристалографія. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня вищої освіти зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» '
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» для здобувачів першого (бакалаврського) рівня вищої освіти зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 Фізика та астрономія за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» (Очної та заочної форм навчання)
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів.(Електронна мікроскопія)». Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«ТЕХНІКА РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО
АНАЛІЗУ». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» '
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«ТЕХНІКА
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО
АНАЛІЗУ» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальностей 104 Фізика та астрономія, 132 Матеріалознавство за освітньо-професійними програмами “Фізика та астрономія”,“Матеріалознавство”
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності Е5 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Растрова мікроскопія та
рентгенівський мікроаналіз» для здобувачів першого (бакалаврського) рівня вищої освіти зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Растрова мікроскопія та
рентгенівський мікроаналіз» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальностей 104 Фізика та астрономія, 132 Матеріалознавство за освітньо-професійними програмами “Фізика та астрономія”,“Матеріалознавство”
'
'«Прикладна кристалографія». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Металографічний аналіз». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» '
'«Рентгенографія матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Фізико-хімічні методи дослідження матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності G8 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
