'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» (Очної та заочної форм навчання) '
'«Методи структурного аналізу матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика конденсованого стану»'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство, за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика конденсованого стану»'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство, за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство»
'
'«Теорія і практика термообробки». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» очної та заочної форм навчання'
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №2 “Препарування зразків для електронномікроскопічних досліджень”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури нагрівання на структуру і властивості сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Методи структурного аналізу матеріалів. (Електронна мікроскопія)». Калібрування збільшення електронного мікроскопу Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота “Енергодисперсійний рентгенівський мікроаналіз”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
' «Методи структурного аналізу матеріалів.(Електронна мікроскопія)». Визначення сталої електронного мікроскопу Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«Термічна обробка металів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство», очної та заочної форм навчання'
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №3 “Калібрування збільшення електронного мікроскопу”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури відпуску на структуру і властивості
загартованої сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”
'
'«Рентгенографія матеріалів» (Частина 1). Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив температури гартування на структуру і властивості сталі” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №4 “Визначення сталої електронного мікроскопа»”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Модуль 1.Кристалографія. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 Фізика та астрономія за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» (Очної та заочної форм навчання)
'
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №1 “Одержання зображень об’єкта в електронному мікроскопі”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Металознавство та термічна обробка металів». “Вплив охолоджуючого середовища на структуру і властивості сталі ” Для студентів за напрямом підготовки “Ливарне виробництво”'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів». 1 Модуль. Елементи практичної металографії Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика конденсованого стану»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія» Лаб.робота №6 “Растровий електронний мікроскоп РЕМ-106”. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Модуль 2.Структура реальних кристалів і механічні властивості металів. Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Методи структурного аналізу матеріалів». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 Фізика та астрономія за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» (Очної та заочної форм навчання) '
'«Атомно-кристалічна будова твердих тіл». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 Фізика та астрономія за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія» (Очної та заочної форм навчання)
'
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Астрофізика». Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 104 «Фізика та астрономія» за освітньо-професійною програмою «Фізика та астрономія»'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 «Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів.(Електронна мікроскопія)». Для здобувачів вищої освіти другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астраномія” '
'«Електронна мікроскопія» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 132
«Матеріалознавство» за освітньо-професійною програмою «Матеріалознавство»'
'«Елементи практичної металографії» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'
'«Методи структурного аналізу матеріалів» Для здобувачів вищої освіти третього (освітньо-наукового) рівня зі спеціальності 132 Матеріалознавство за освітньо-науковою програмою «Матеріалознавство» '
'«Електронна мікроскопія». Для здобувачів другого (магістерського) рівня зі спеціальності 104 “Фізика та астрономія” за освітньо-професійною програмою “Фізика конденсованого стану”'
'«Рентгенографія матеріалів» Для здобувачів вищої освіти першого (бакалаврського) рівня зі спеціальності 132 “Матеріалознавство” за освітньо-професійною програмою “Матеріалознавство”
'